直接型 沐光方式
高密度光输出，产生鲜明逼真的图像。 |
直接型 低角度方式
工作模块边缘检测和光滑表面的划痕检测。 |
直接型 条形方式
高密度的LED阵列置于紧凑的，成直角的，可倾斜的发光照明单元中。
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LDR & SQR series
检测IC芯片上的印刷字符
检测电路板上的零件
检测塑料容器的底部
标签检测
检测液晶玻璃基板的标记 |
LDR-LA & LDR-LA-1
series
读取发动机部件上的印刷标记
晶片损伤检测
BGA焊点位置和面积的检查
读取刻印字符
检查玻璃基板，晶片损伤，污点
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LDL &LDQ series
检测小型LCD面板
标签检测
陶制封装件的外部和裂缝检测
QFP，SOP检测
金属板表面检查 |
直接型 聚光方式
线型，汇聚光束照明 |
间接型 低角度方式
均匀，漫射侧照明 |
间接型 扁平环状方式
平滑，扩散的顶点光
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LN series
检测树脂产品
检测插件等
检测胶片和纸张 |
FPR & FPQ series
BGA焊点位置和面积的检查
铝罐头的底部检测
塑料盖的侧面检查
高尔夫球的污点检查
SOP，CSP类型的字符检测等
检查芯带内的QFP，SOP等的插针
QFP，SOP的外观检查 |
LFR & LKR/LAV-80
series
检测IC芯片上的印刷字符
检测电路板元件
晶片外部检测（背光）
焊接检测
检测橡胶类制品
封盖标记检测
检查封盖内部和底部的脏污
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透射型 背光方式
用于轮廓检测 |
透射型 线条方式
线形传感器的最佳照明 |
同轴型 同轴方式
均匀照明反光工作界面
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LDL-TP&LFL series
电子元件的外部检测
检测透明胶片等的污点
SOP和CSP检测
液晶文字的检查
检测小型电子元件及QFP，SOP的尺寸和外形
检查轴承的外观和尺寸
检查半导体引线框的外观和尺寸 |
LND series
包装破损检测
LCD破损检测
膨胀胶片破损检测
遮蔽胶带破损检测
伸展胶片破损检测
迭片结构破损检测
液晶零件的检查
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LFV / LFV-CP /
LFV-5 & LNV-300 series
金属，玻璃等光洁表面的划伤检查
芯片和硅晶片的破损检测
检测玻璃板的表面损伤
检测PC母板的图谱 |
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